专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析 内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片 电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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全面应对制药行业铬（Cr）含量的快速测试，由于铬（Cr）元素荧光光子能量(5.4KeV)在非金属材质中能够很好的被激发。其他元素对铬（Cr）元素影响较小。因而能够比较准确的测试出非金属中的铬（Cr）含量。

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